Предоставление доступа соискателя к САПР c библиотеками элементов (указанному в задание, NIAWR или Keysight ADS).
Предоставление списка измерительных приборов, необходимых для построения стенда, с подробной документацией на каждое устройство.
Контрольно-оценочные мероприятия проводятся техническими экспертами и экспертами по оценке аттествованными СПК в наноиндустрии.
Протокол
20
14.06.2017
Text